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Semiconductor memories : technology, testing, and reliability / Ashok K. Sharma
| 電子版 >> | Semiconductor memories : technology, testing, and reliability |
|---|---|
| 出版情報 | New York : IEEE Press , c1997 |
| 巻冊次 | ISBN:0780310004 
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| ISBN | 0780310004 |
| 本文言語 | 英語 |
| 大きさ | xii, 462 p. : ill. ; 26 cm |
[BOOKデータASPサービス] あらすじ／目次
書誌詳細を表示
| 一般注記 | Includes bibliographical references and index |
|---|---|
| 著者標目 | Sharma, Ashok K. |
| 分 類 | LCC:TK7895.M4 DC20:621.39/732 |
| 件 名 | LCSH:Semiconductor storage devices |
| 書誌ID | 1020043391 |
| NCID | BA28643419 |
所蔵情報を非表示
| 配架場所 | 巻 次 | 請求記号 | 資料番号 | 状 態 | コメント | 利用注記 | 予約・取寄 | 資料メモ | 仮想書架 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 小:2閲B1FエリアC |
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549.8/Sh13 | 10602020363200 |
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